臺(tái)式PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)用途：

加速壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等)，加快試驗(yàn)過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。

用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。

隨著半導(dǎo)體可靠性的提高，目前大多半導(dǎo)體器件能承受長期的THB試驗(yàn)而不會(huì)產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間，采用了新型的壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法。壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT(HAST) 現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗(yàn)作為濕熱加速試驗(yàn)被IEC(國際電工委員會(huì))所標(biāo)準(zhǔn)化。

注意事項(xiàng)：USPCT現(xiàn)在稱為HAST(高度加速應(yīng)力試驗(yàn))

臺(tái)式PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品特點(diǎn)：

◆智能型排氣設(shè)計(jì)(鍋爐內(nèi)空氣抽出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性

◆長時(shí)間實(shí)驗(yàn)機(jī)臺(tái)運(yùn)轉(zhuǎn)400小時(shí)超長效實(shí)驗(yàn)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)間

◆內(nèi)建USB2.0&磁盤驅(qū)動(dòng)器數(shù)字記錄器儲(chǔ)存接口USB2.0儲(chǔ)存接口

◆箱體耐壓力(140℃)2.65kg，符合水壓測(cè)試6kg tank耐壓設(shè)計(jì)

溫濕度可控制能力范圍圖：

臺(tái)式PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)技術(shù)規(guī)格：